產(chǎn)品詳情
1、設(shè)備用途、型號(hào)、功能簡(jiǎn)述
1.1設(shè)備用途
可用于陶瓷電容器(包括芯片電容及MLCC)生產(chǎn)線中的篩選,實(shí)現(xiàn)對(duì)陶瓷電容的容損及常溫絕緣電阻的測(cè)試,采用的測(cè)試夾具為電容載盒,電容載盒可與老化設(shè)備共用,可實(shí)現(xiàn)測(cè)試與老化環(huán)節(jié)的自動(dòng)化、信息化操作,構(gòu)成高等級(jí)陶瓷電容測(cè)試篩選生產(chǎn)線。
1.2 設(shè)備型號(hào):EST100S/MLCT
1.3 功能簡(jiǎn)述
自動(dòng)化功能:
設(shè)備采用與老化機(jī)一樣的載盒,實(shí)現(xiàn)覆蓋多種陶瓷電容型號(hào),能自動(dòng)讀取插入的每個(gè)電容載盒盒號(hào)。與老化機(jī)一起,可共同構(gòu)成半自動(dòng)測(cè)試篩選線,同時(shí)實(shí)現(xiàn)針對(duì)每一個(gè)電容的全程信息化管理。
容值損耗測(cè)試部分:
A.逐顆電容檢測(cè)功能:
設(shè)備按照逐顆測(cè)試的方式,測(cè)試載盒中每個(gè)電容的容值和損耗值,將數(shù)據(jù)記錄在該盒號(hào)下的數(shù)據(jù)文件中。
B.逐行電容監(jiān)測(cè)功能:
設(shè)備按照逐行測(cè)試的方式,測(cè)試載盒中每個(gè)電容的容值和損耗值,將數(shù)據(jù)記錄在該盒號(hào)下的數(shù)據(jù)文件中。
常溫絕緣電阻測(cè)試部分:
設(shè)備按照整盒測(cè)試的方式,測(cè)試載盒中每個(gè)電容的常溫絕緣電阻值,將數(shù)據(jù)記錄在該盒號(hào)下的數(shù)據(jù)文件中。
2. 設(shè)備構(gòu)造
設(shè)備組成由兩臺(tái)運(yùn)動(dòng)測(cè)試平臺(tái)(一臺(tái)用于容損測(cè)試、一臺(tái)用于常溫絕緣電阻測(cè)試)、測(cè)試板單元、電腦及測(cè)控主機(jī)單元三部分構(gòu)成,具體形態(tài)如下圖所示:
3. 測(cè)試容量
3.1 基本配置機(jī)型
一次測(cè)試陶瓷電容較大容量:
單個(gè)電容測(cè)試載盒的容量為100顆。
3.2 陶瓷電容載盒
陶瓷電容載盒:采用信息化載盒,擁有與盒號(hào)一致的條碼及機(jī)讀編碼元件
按照陶瓷電容種類不同分為以下兩種:
A.敞開式載盒:適用于較大尺寸的MLCC(0603封裝以上),如下圖所示:
B.封閉式載盒:適用于較小尺寸的MLCC(0603封裝以下)及所有尺寸的芯片電容,如下圖所示:
4、備注:
本方案是為陶瓷電容的容損及常溫絕緣電阻測(cè)試提供的基本配置方案,具體細(xì)節(jié)以及其它相關(guān)技術(shù)參數(shù)和指標(biāo),雙方可以在進(jìn)一步協(xié)商確定。
本設(shè)備采用了伊施德公司在陶瓷電容容損及常溫絕緣電阻測(cè)試方面的多項(xiàng)專利技術(shù),性價(jià)比較高,歡迎行業(yè)內(nèi)廣大客戶交流合作。