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【應用分享】ITECH在半導體Power IC領域的測試應用
來源:艾德克斯 | 作者:sztaiqin | 發(fā)布時間: 2020-12-16 | 2798 次瀏覽 | 分享到:
半導體,指常溫下導電性能介于導體與絕緣體之間的材料,半導體產品主要分為四大類,分別包含集成電路(IC),光電子器件,分立器件和傳感器, ITECH針對封裝后的IC的測試,半導體激光器,光電照明器件的測試,二極管,三極管,場效應管,可控硅,IGBT,保險絲,繼電器等分立器件以及傳感器的測試都有配套的解決方案,如IC老化測試,供電測試,分立器件的導通測試等,尤其是半導體激光器的測試,依托于IT-M3100和IT6000C的CC/CV優(yōu)先權設定以及環(huán)路速度可調的功能,可有效抑制開機過沖,保護半導體DUT。


 
隨著手機、平板、智能穿戴產品的普及,對于集成協議的移動電源SoC的需求也在增長。ITECH更推出IT8500G+直流電子負載,內置多達8 種豐富的快充協議,滿足對于快充適配器,移動電源、快充充電寶等產品的測試。采樣帶寬可達300kHz,配合內置的紋波測試功能,可協助工程師輕松完成DUT 電壓和電流紋波的量測,同時也具備自動測試、電池放電測試、動態(tài)測試等多種豐富的功能,滿足大部分開關電源、電池等產品研發(fā)階段,生產老化階段的性能測試需求。