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IC輸入測試中，直流電源過沖電壓抑制的“隱藏功能”你知道嗎？

來源:艾德克斯 | 作者:sztaiqin | 發(fā)布時間: 2021-01-23 | 2064 次瀏覽 | 分享到:

TECH作為一家專業(yè)的測試儀器供應商始終致力于滿足不同行業(yè)領域的各類測試應用，并為此不斷推出各類型迎合市場需求的新產(chǎn)品，ITECH于近期推出了3U15kVA的IT7800系列交流電源，為大功率市電模擬測試領域注入了一劑有力的新鮮血液。

開關電源以小型、輕量以及高效率的特點被廣泛應用幾乎所有的電子設備。由于智能設備，小型移動設備的高速發(fā)展和巨大的市場需求，細分市場中電源IC的需求日益旺盛。從類型上有隔離降壓型，隔離升壓型，非隔離降壓型等等多種類型，同時又有sot23-5，sot-23-6，sop8，esop8，qfn3*3-20等等多種不同的封裝型式。
電源類IC與傳統(tǒng)的模塊化/功率級電源產(chǎn)品有很大的不同，受限于封裝及PCB尺寸的限制，測試時對于輸入電源的要求更加嚴苛。此類測試應用中輸入側電源電壓的爬升速度和電壓的過沖幅度將對整個測試的結果產(chǎn)生重大影響。
ITECH廣受好評的IT6512C直流電源具備0-80V的電壓輸出能力，最快可支持8V/ms的爬升速率，可編輯爬升速度，在進行輸入測試時可模擬被測電源IC不同電壓建立速度下的輸出特性，同時IT6512C直流電源具備良好的過沖電壓抑制功能。

低電壓5V輸出時平滑無過沖

10V輸出時平滑無過沖

40V輸出時平滑無過沖

對于需求更小體積電源的用戶，ITECH具有IT-M3100系列靈巧型寬量程直流電源，在?1U的Mini體積里實現(xiàn)高達850W功率輸出，電壓范圍覆蓋20V-600V,具有CC/CV優(yōu)先權設置功能也可抑制過沖，也可應用于電源IC老化測試。

電源IC做為智能設備中重要的一環(huán)，起到了為各個模塊轉換不同的輸出電壓的重要功能，但由于封裝結構的特性測試時實驗電源若出現(xiàn)過充現(xiàn)象則極易造成被測件的損壞。除了電源類產(chǎn)品，ITECH還開發(fā)了ITS9500系列自動化測試平臺，通過整合負載，信號源，示波器，高精度數(shù)采等通用測試測量儀器，可滿足對電源ICdamo板快速化性能測試，大大簡化測試工作，提供了更加詳細和完善的數(shù)據(jù)記錄功能，適合研發(fā)及產(chǎn)線的批量化生產(chǎn)需求。