電學(xué)測(cè)試
靜態(tài)電流測(cè)試(SIDD),在一定電壓下讓IC處于無(wú)負(fù)載、無(wú)振蕩狀態(tài),將電流表的一端接電源的正極,另一端接IC的VDD腳,電流表的讀數(shù)即為IC的靜態(tài)電流。
IT6400雙極性直流電源,解析度高達(dá)1nA,既可以作為供電電源,又可以測(cè)試靜態(tài)電流。
老化測(cè)試
半導(dǎo)體的老化測(cè)試過(guò)程基本上模擬運(yùn)行了芯片整個(gè)壽命,可以用來(lái)作為器件可靠性的檢測(cè)或作為生產(chǎn)窗口來(lái)發(fā)現(xiàn)器件的早期故障。傳統(tǒng)的方法是采用電阻進(jìn)行能耗放電,這一方面會(huì)消耗大量的電能,另一方面會(huì)大大增加輸配電設(shè)備的容量,同時(shí)釋放的熱量會(huì)增加空調(diào)的負(fù)擔(dān)。通常而言,負(fù)載具有負(fù)效率特性、影響了工作環(huán)境質(zhì)量和電力開銷。其中最大的問(wèn)題就是電量的浪費(fèi)。比如,一個(gè)典型的100路800W的老化測(cè)試系統(tǒng)就要消耗超過(guò)80KW才能夠提供測(cè)試功能。
IT-M3300系列小功率回饋式直流電子負(fù)載很好的填補(bǔ)了這一產(chǎn)品空白,既能模擬各種負(fù)載特性,又能將電能無(wú)污染的回饋電網(wǎng),?U的體積內(nèi)可提供高達(dá)800W的功率吸收。
特性測(cè)試
IT-M3200高精度直流電源的電流最大可達(dá)10A,分辨率可達(dá)10nA,可以滿足用戶更多IC測(cè)試需求。另外, IT9100系列功率分析儀可代替電流表,來(lái)完成測(cè)試。
生產(chǎn)測(cè)試
在芯片測(cè)試中會(huì)使用直流電源對(duì)芯片進(jìn)行供電,在此類測(cè)試中需要大量小體積、高精度、可編程直流電源。近期,數(shù)百臺(tái)IT-M3120高精度可編程直流電源集成于測(cè)試臺(tái)為用戶完成其產(chǎn)線生產(chǎn)測(cè)試需求。
IT-M3100系列擁有擴(kuò)展輸出電流、電壓的功能。可以根據(jù)用戶不同要求的電流、電壓值,采用并聯(lián)、串聯(lián)的方式來(lái)實(shí)現(xiàn)。并聯(lián)運(yùn)行時(shí),最多可并聯(lián)4臺(tái)。串聯(lián)運(yùn)行時(shí),可連接2臺(tái)。透過(guò)串并聯(lián)功能可支持多種不同功率的待測(cè)物測(cè)試,并且使用戶的使用更為彈性,設(shè)備的使用率大幅提高。